S
stuck_adc
Guest
M. MAHONEY DSP-Based Testing of Analogiset ja monimuotosignaali-piirejä IEEE Computer Society Press, 1990.
B. Ayari, N. Ben-Hamida ja B. Kaminska, Automaattiset Test Vector Generation Sekakuorolle-Signal piireihin, Euroopan konferenssi Design Automation, Pariisi, Marsh 1995, ss.458-463.
MV Bossche, Schoukens, ja J. Rennboog Dynaaminen testaus ja Diagnosis of A / D-muuntimet IEEE Transactions on Circuits and Systems, August 1986, ss.775-785.
A. Charoenrook ja M. Soma A Fault Diagnosis Technique Flash ADC s, International Test Conference 1993, ss.
MF WAGDY diagnosointi ADC onlinearity on Bit tason IEEE iransactions on instrumentointi ja mittaukset,
joulukuu 1989, pp.1139-1141.
J. BLAIR Histogrammi mittaaminen ADC Nonlinearities käyttäen Sine
Waves IEEE Transactions on Instrumentation ja mittaukset, kesäkuu
1994, pp.373-383.
MF WAGDY ja SS Awad määrittävällä ADC Tehokas lukumäärä
BITS Via Histogrammi Testaus IEEE Transactions on Instrumentation
ja mittaukset, August 1991, ss.770-772.
B. Ayari, N. Ben-Hamida ja B. Kaminska, Automaattiset Test Vector Generation Sekakuorolle-Signal piireihin, Euroopan konferenssi Design Automation, Pariisi, Marsh 1995, ss.458-463.
MV Bossche, Schoukens, ja J. Rennboog Dynaaminen testaus ja Diagnosis of A / D-muuntimet IEEE Transactions on Circuits and Systems, August 1986, ss.775-785.
A. Charoenrook ja M. Soma A Fault Diagnosis Technique Flash ADC s, International Test Conference 1993, ss.
MF WAGDY diagnosointi ADC onlinearity on Bit tason IEEE iransactions on instrumentointi ja mittaukset,
joulukuu 1989, pp.1139-1141.
J. BLAIR Histogrammi mittaaminen ADC Nonlinearities käyttäen Sine
Waves IEEE Transactions on Instrumentation ja mittaukset, kesäkuu
1994, pp.373-383.
MF WAGDY ja SS Awad määrittävällä ADC Tehokas lukumäärä
BITS Via Histogrammi Testaus IEEE Transactions on Instrumentation
ja mittaukset, August 1991, ss.770-772.